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2019-08-29

J8彩票机合明科技解析芯片投片生产样片和修正相关问题

发布者:合明科技 ; 浏览次数:127

J8彩票机合明科技解析芯片投片生产样片和修正相关问题


经过前面一系列的验证工作,这道工序就可以告一段落了,几经修订的设计方案被送到了芯片代工厂开始投片生产.代工厂从拿到设计方案到第一批产品下线一般需要四周的时间,不过在这段时间里,设计人员仍旧马不停蹄,继续进行芯片的模拟测试和上市产品PCBs(Printed Circuit Boards印刷电路板) 的设计,这就产生了一般官方钦定的“公板”.四周以后,第一批产品下线了,这就是我们一般称为的”A0”版本。 


一般情况下, A0版本的产量不会很多,它们的主要用途还是用来进行测试和修改,一些被送到开发小组继续测试和查错,另一部分被送到相关的卡板厂商处进行相关的测试和设计。由于现在是有了真正的芯片到手了,查错的手段当然也要和前面的模拟手段不同。FIB (Focused Ion Beam聚焦离子束) 系统在这里被引入查错过程。简单的说FIB系统相当于我们平时在医院看到的各种依靠波束能量进行外科类手术的仪器,它们能在不破坏芯片功能的前提下,对芯片进行门电路级别的修改——切断原有的或者是布置新的门连线,不管你需要修改的电路是在芯片金属布线的哪一层,也不会对芯片造成任何的物理损坏。


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这就是nvidia使用的一台FIB 设备 


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当然,除了FIB设备外,还要使用很多其他的测试手段,像上图这台机器同样是一台探测芯片缺陷的设备,工作原理又完全不同,实际上它是一台高性能原子级别电子显微镜。下面这张图显示的就是一块NVIDIA 芯片在45,000X放大倍数下的面目。我们在图中用红线框围绕的部分就是该芯片的缺陷。一般这种缺陷都是在生产过程中造成的, 由于某种其他物质的原子混进高纯度硅晶体中造成的。这台机器能够辨别出混入的这种原子的种类并且判断可能是什么原因这些原子会进入到芯片的这个部分,从而能采取措施避免这种情况的发生,改善成品率。


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当“所有”的缺陷都得到了修正之后,最终的设计被交付到代工厂进行投片生产,这时的产量就不会像A0版本那么少了,但也不是最终的量产版本,在前面验证基本功无误的情况下,这次生产的芯片要进行各种各样的和正式上市产品相关的测试:产品兼容性,工作温度,外围供电电路的稳定性,信号完整性等等,直到产品能达到作为产品上市的程度,这时芯片生产方就可以投入量产了。


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 在最后的这些测试过程中,要测试大量的GPU,方便期间,显卡上面都做出了GPU的插座,一个个独立的GPU芯片只要插接在上面就能进行测试了。当然这些插座都是为特定的GPU芯片所设计的,只能来测试引脚定义相同的GPU。也许有朋友说,要是现在市面上的显卡也做成这种插座式的设计,并且能够不断进行升级该有多好,我们先不说每一款芯片针脚定义不同。假设这方面不是问题,那我们至少也要保证显存有能力向新核心提供数据的带宽同步增长才有意义。所以说,显卡上GPU插座的设计注定只能存在在实验室。


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其实芯片设计过程中的插座原则也适用于其它产品,在主板芯片组的测试过程中也很常见,瞧瞧上面这块nForce 2主板,它的北桥芯片同样是安放在插座上的。


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到了这个阶段就会有很多芯片用来进行各种测试,上图就是等待测试一堆Quadro4


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以上为合明科技在工业清洗方面的经验的累积,我们是国内自主掌握核心水基清洗技术的先创品牌,在水基清洗、环保清洗方面有着丰富的经验,也成为了IPC清洗标准主席单位。但是因为工业清洗问题内容广泛,没办法面面俱到,本文只对常见问题作分析,随着电子产业的不断更新换代,新的工艺问题也不断出现,本公司自成立以来不断追求产品的创新,做到与时俱进,熟悉各种生产复杂工艺,力争能为客户提供全方位的工业清洗解决方案。

 

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